產(chǎn)品型號

GPI XP/D 640 x 480 CCD 圖像采集、

相移式干涉測量法基本型

系統(tǒng)

測量方法 激光3維相移干涉法 測量功能 精密測量各種不同反射面或光學(xué)面

的形貌及特性

測量光束直

徑

4″(102 mm)

6″(152 mm)

配置 水平式,立式向下或立式向上

光學(xué)中心線 4.25″(108 mm)

對準(zhǔn)系統(tǒng) 快速條紋采樣系統(tǒng)(QFAS) (雙光點

定位于十字線)

放大范圍 6:1(非連續(xù)式放大,低失真)

調(diào)整可視范

圍 4″: ±3° 6″: ±2 °

光曈調(diào)焦范

圍 -800 mm/+1600 mm, 4″孔徑

樣件觀察 計算機(jī)實時顯示/單獨監(jiān)視器

計算機(jī) DELL PC;配有硬盤,光驅(qū),17英寸

液晶彩顯,可選配打印機(jī)

立式4″: 73 Kg

立式6″: 77 Kg

性能參數(shù)

3平板測量

重復(fù)性1

λ/300 (2σ )

RMS 重復(fù)性2 λ/10,000 (2σ)

數(shù)據(jù)采樣 640x480 像素,8位

可選:1K x 1K像素

分辨率 >λ/8,000

條紋分辨率3

180條紋

數(shù)據(jù)采樣時

間

價格：面議成色：8~9成新

所在地：重慶交易地點：全國各地

聯(lián)系人： 楊小姐  [ 商家 ]

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